200kV场发射透射电镜JEM-F200

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性能指标：
1、TEM点分辨率：0.23 nm；线分辨率0.10 nm；

2、STEM HAADF分辨率0.16 nm；

3、EDS 双能谱探头；

4、Gatan Oneview IS超快速CMOS相机。

功能及应用：
1、TEM模式: 形貌像、高分辨(HRTEM)、电子衍射(Diffraction)、明/暗场像(Bright/Dark Field Image)；

2、HAADF-STEM模式: 明/暗场(Bright/Dark Field Image)；

3、EDS 成分分析：点分析(Point analysis)、线分析(Line Scan)、面分析(Mapping)；

4、热/电原位电镜样品杆；

5、液体、电化学原位样品杆；

6、三维透射电镜样品杆。

样品要求：
1、粉末样品、液体样品需要制备到适合样品的有机碳膜铜网上；常见碳膜铜网有：连续碳膜、超薄碳膜、不连续碳膜（也叫微栅）；如果样品有磁性，请使用有碳膜的双联膜铜网。电镜测试时，只带载有样品的铜网。

2、固体块材样品需要减薄到TEM测试要求，需要根据样品选择合适的减薄方法。