上光彼爱姆干涉显微镜6JA

• 品牌：上光彼爱姆

一、用途

6JA干涉显微镜是用来测量精密加工零件（平面、圆柱等外表面）光洁度的仪器，也可以用来测量零件表面刻线，镀层等深度，并配以各种附件，还能测量粒状，加工纹路混乱的表面，低反射率的工件表面，同时还能将仪器安置在工件上，对大型工件表面进行测量。仪器测量表面不平深度范围为1～0.03微米，用测微目镜和照相方法来评定▽10～▽14光洁度的表面。

本仪器适用于厂矿企业计量室，精密加工车间，也适用于高等院校，科学研究等单位。

二、技术规格

1、测量表面光洁度范围 ：▽10～▽14（相当于测量表面不平深度范围为1～0.03μm）

2、工作物镜的数值孔径：0.65

3、工作距离： 0.5mm

4、仪器的视场 目视：Φ0.25mm

5、仪器的放大倍数：500×

6、测量目镜放大倍数：12.5×

7、测微鼓分划值：0.01mm

8、绿色干涉绿色片波长 ：λ≈5300?

9、半宽度：▽λ≈100?

10、 工作台升程：5mm

11、X、Y方向移动范围 ：≈10mm

12、旋转运动范围 ：360°

13、可调变压器输入电压： 220V 或110V

14、输出电压（可调）：4V～6V

15、仪器标准镜：高反射率：≈50%； ；低反射率： ≈4%

16、仪器外形尺寸：270×160×230mm

17、 仪器重量： ≈5㎏

三、选配件

1、计算机成像系统：CCD摄像头、CCD适配镜、外置式图像视频采集卡(A/D)

2、数码相机系统 ：数码相机、90度数码适配镜、转接器

3、数码摄像机系统：便携式数码摄像机、数码图像适配镜（摄像型）、转接环

4、数字CMOS摄像机：(130万/300万/500万/1000万)、MCL-Z适配镜

四、仪器成套性