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上光彼爱姆光切法显微镜9J

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上光彼爱姆光切法显微镜9J

上光彼爱姆光切法显微镜9J

上光彼爱姆光切法显微镜9J

  • 品牌:上光彼爱姆

一、用途

9J光切法显微镜是以光切法测量零件加工表面的微观不平度。适用于测量1.0~80微米即原标准▽3-▽9级表面光洁度。对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。 光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。

 

二、技术规格

测量范围不平度平均高度值 um

表面光洁度级别

所需物镜

总放大倍数

物镜组件

工作距离 mm

视场 mm

1.01.6

1.66.3

6.320

2080

9

87

65

43

60timesN.A.0.55

30timesN.A.0.40

14timesN.A.0.20

7timesN.A.0.12

510times

260 times

120 times

60 times

0.04

0.2

2.5

9.5

0.3

0.6

1.3

2.5

1、摄影装置放大倍数:约6X

2、测量不平度范围 0.0010.08mm

3、不平宽度: 用测微目镜: 0.00072.5mm;用坐标工作台:0.0113mm

4、仪器重量: 23kg

5、外形尺寸: 180×290×470mm

 

三、仪器成套性:

名称

单位

数量

1

仪器本体

1

2

测微目镜

1

3

坐标工作台

1

4

V 型块

1

5

标准刻尺(连盒)

1

6

7 倍物镜

1

7

14 倍物镜

1

8

30 倍物镜

1

9

60 倍物镜

1

10

可调变压器220/46/5VA

1

11

2.16伏灯泡 (备用件)

3

12

产品使用说明书

1

13

产品合格证明

1

14

产品保修卡

1

 






上光彼爱姆光切法显微镜9J


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上光彼爱姆光切法显微镜9J
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